基本信息
| 标准名称： | 多探针测试台通用技术条件 |
| 英文名称： | General specification for probe tester |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子工业生产设备 >> 加工专用设备 |
| ICS分类： | 电子学 >> 电子设备用机械构件 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1994-01-02 |
| 实施日期： | 1995-08-01 |
| 首发日期： | 1994-12-28 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 平凉半导体专用设备研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：9， 字数：14千字 |
适用范围
本标准规定了多探针测试台的术语、技术要求、试验方法、检验规则、包装贮存等要求。本标准适用于手动、半自动、全自动多探针测试台。其他类型的探针测试台亦可参照使用。
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子工业生产设备 加工专用设备 电子学 电子设备用机械构件